概述

通用测试系统主要针对各种电子产品在研制、生产及配套的测试设备中普遍存在的通用性差、品种繁多、维护保障困难等共性问题，采用通用测试接口（CTI）技术、自动测试标记语言（ATML）技术、测试用例自动生成技术、故障树模型与案例推理结合的综合测试诊断技术等关键技术，实现了一套通用化测试系统完成多种不同测试对象的测试与诊断，充分实现了软硬件资源的共享，达到了开放的效果，节省了成本，提高了工作效率。

该系统可独立完成各种产品的接口仿真测试，从而验证设备通讯协议和指标的合理性，也可外接激励源对产品的功能、接口进行测试验证。能够对电子产品的仿真、验证、测试、评估等提供支持。

该系统按操作系统分为Windows、Linux、VxWorks三种型号，用户可根据需要进行选择，功能可根据用户需求进行裁剪与扩展，也可以根据用户需求进行定制研发，广泛适用于各种复杂电子系统的设计验证、维修测试以及故障诊断。

特性描述

♦  硬件资源共享，软件通用，通过对软硬件配置可实现多种产品的测试要求

♦  支持MIL-STD-1553B、ARINC429、AFDX、FC、CAN、串口、模拟量、数字量、PWM、RTD等ICD的管理

♦  支持系统中硬件资源、被测LRU、测试构型、测试用例的管理

♦  可根据被测产品特性进行测试流程的自配置，生成测试用例

♦  支持根据被测产品的需求，对被测产品及其连接关系进行硬线自动配置，生成测试构型

♦  支持产品的手动/自动测试，并对其进行分析，生成测试报告